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SW 오류 검출을 위한 테스트케이스 자동 생성 기술: Concolic Testing

2018-04-23
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김문주 교수(KAIST) / 2018.05.02

SW 오류 검출을 위한 테스트케이스 자동 생성 기술:  Concolic Testing

 

이력

김문주 교수는 2001년 Univ. of Pennsylvania 에서 박사학위 취득후 시큐아이 및 POSTECH 에서 연구를 수행하고 2006년 KAIST 전산학과에 부임하였다. 김문주 교수는 자동화된 SW 테스팅기법을 통해 복잡한 내장형 SW의 신뢰성을 향상시키는 연구를 삼성전자, LG전자, 현대자동차의 제품에 적용하여 수백여건의 심각한 오류를 검출하였다. 또한 세계적으로 연구성과를 인정받아 정보과학회 소프트웨어 공학분야 최우수 국제학회인 ASE, FSE, ICSE 에 10여편 논문을 발표했고, ICST 2018 우수논문상을 수상하였으며 ICSE New Faculty Symposium 2016 co-chair, ASE 2015 및 ICST 2016학회 publication co-chair, 그리고 3년 (2014-2016) 연속 ICSE PC 위원을 역임하는 등 활발한 국제연구활동을 수행중이다

 

 

강의 abstract:

4차 산업시대의 핵심 기술인 SW의 품질 및 안정성을 향상하기 위해, 다양한 SW 테스팅 기술들이 연구되어 왔다. 그 중 복잡한 대상 SW의 소스코드를 분석하여, SW 오류를 효과적으로 검출하는 테스트케이스를 자동으로 생성하는 Concolic (CONCrete + symbOLIC) 테스팅 기술에 대해 살펴본다.

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